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更新时间：2013-10-10 
浏览次数：771电子汽车衡传感器内建自测技术（BIST）
内建自测设计技术的基本思想是不需要外产来施加测试向量，由电路自己生成测试向量，依靠自身来决定获得的测试结果是否正确。这种方法通过电子汽车衡传感器内部集成少量的逻辑电路来实现对集成电路的测试。随着集成度的提高，集成电路工程不再在乎BIST逻辑所占用的电路或芯片面积，因而内建自测设计技术广泛地应用于现代集成电路中。这种测试方法还被认为是解决测试仪器开发周期长、费用高的有效方法之一。
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